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光學器件分析系統

產品型號: LGA50

所屬分類:OFDR矢量分析儀

更新時間:2025-07-23

簡要描述:光學器件分析系統LGA50具有功能齊全、性價比高等特點,可實現器件、光模塊等光學鏈路全范圍插損、回損、長度的精確測量。長度測量范圍為50m,精度可達毫米量級,空間分辨率為20μm,適用于定量分析、品質監測及故障診斷。

詳細說明:

光學器件分析系統LGA50具有功能齊全、性價比高等特點,可實現器件、光模塊等光學鏈路全范圍插損、回損、長度的精確測量。長度測量范圍為50m,精度可達毫米量級,空間分辨率為20μm,適用于定量分析、品質監測及故障診斷。


特點:

•空間分辨率:20μm

•測量長度:50m

•中心波長:1550nm

•插損、回損分析


應用:

•無源器件插損、回損測量

•硅光芯片插損、回損測量

•平面波導器件測試

•光學鏈路分析、診斷


參數:

類別

指標

單位

測量長度1

50

m

空間分辨率2

20

μm

波長掃描范圍

40

nm

中心波長

1550

nm

波長精度

1.0

pm

回損動態范圍

65

dB

回損測量范圍

-130~0

dB

回損靈敏度

-130

dB

回損測量精度

±0.5

dB

回損分辨率

±0.05

dB

插損動態范圍3

13

dB

插損測量精度

±0.5

dB

輸入電壓

AC   220/110V; DC 12V

-

主機功率

60

W

通訊接口

USB

-

光纖接口

FC/APC

-

尺寸

W 345   * D 390 * H 165

mm

重量

7.5

kg

儲藏溫度

0~50

工作溫度

10~40

工作濕度

10~90

%RH

擴展功能4

采集頻率

5Hz@(20m,42nm)

15Hz@(20m,10nm)

-

備注:

1.LGA50測量長度為50m ,后續支持升級至100m

2.空間分辨率為20μm,后續支持升級至10μm

3.插損動態范圍是指標準單模光纖其散射水平被本底噪聲淹沒之前的最大來回損耗;

4.擴展功能為升級模塊,需要單獨購買。




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